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更新日期:2024-09-18
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簡(jiǎn)要描述:產(chǎn)品廣泛用于:電子、電器、連接器、五金、LED、LCD、模組、模塊、手機(jī)、塑膠、顯示器、二三極管、機(jī)箱、電鍍、插頭、電線、IC、磁鐵、線路板、馬達(dá)、電機(jī)、汽車配件、家電、通信、化工、科研、航天、模組、家具、主板、集成電路、太陽能光伏等領(lǐng)域。
東莞艾思荔專業(yè)生產(chǎn).環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備*.訂購:.溫度沖擊試驗(yàn)箱品質(zhì)您放心,服務(wù)您舒心,使用更讓您不費(fèi)心
快速溫度變化試驗(yàn)機(jī)的目的及試驗(yàn)要求
快速溫度變化試驗(yàn)機(jī)用來測(cè)試材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料,在瞬間下經(jīng)高溫、低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度,適用于科研、學(xué)校、工廠、等單位用于電工、電子產(chǎn)品、半導(dǎo)體、電子線路板、金屬材料、軸承等各種材料在溫度急劇變化環(huán)境下的適應(yīng)性試驗(yàn)。
1、快速溫度變化試驗(yàn)機(jī)目的:確定測(cè)試產(chǎn)品在周圍大氣溫度急劇變化時(shí)的適應(yīng)性及被破壞性。
2、試驗(yàn)條件:高溫箱:RT~150℃,低溫箱:RT~-40℃,試驗(yàn)溫度保持時(shí)間:1h或者直至試驗(yàn)樣品達(dá)到溫度穩(wěn)定,以時(shí)間長(zhǎng)者為準(zhǔn),循環(huán)次數(shù):針對(duì)各個(gè)不業(yè)不同廠家所對(duì)應(yīng)的試驗(yàn)要求不一樣,按照標(biāo)準(zhǔn)上的試驗(yàn)方法測(cè)試。
3、恢復(fù):測(cè)試產(chǎn)品從冷熱沖擊箱內(nèi)取出后,應(yīng)在正常的試驗(yàn)大氣條件下進(jìn)行恢復(fù),直至試驗(yàn)樣品達(dá)到溫度穩(wěn)定。
4、對(duì)冷熱沖擊箱的要求:
a.采用高溫箱和低溫箱進(jìn)行冷熱沖擊試驗(yàn),以提供試驗(yàn)樣品經(jīng)受周圍空氣溫度急劇發(fā)生變化的環(huán)境溫度。
b.高溫區(qū)的要求,應(yīng)符合GJB150.3-86《軍用設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法高溫試驗(yàn)》的3章各條所規(guī)定的要求。
c.低溫區(qū)的要求,應(yīng)符合GJB150.4-86《軍用設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法低溫試驗(yàn)》的3章各條所規(guī)定的要求。
d.冷熱沖擊箱提供高溫試驗(yàn)部分和低溫試驗(yàn)部分,應(yīng)分別符合GJB150.3-86和GJB150.4-86的3章各條所規(guī)定的要求。
e.試驗(yàn)箱的容積應(yīng)保證在試驗(yàn)樣品放入候補(bǔ)超過試驗(yàn)溫度保持時(shí)間的10%就能使試驗(yàn)箱(室)溫度達(dá)到GJB150.1-89中3.2條規(guī)定的試驗(yàn)條件容差范圍之內(nèi)。
5、控制系統(tǒng):
低溫區(qū)、高溫區(qū)轉(zhuǎn)換時(shí)間≤15s。
溫度恢復(fù)時(shí)間≤5min。
6、參照標(biāo)準(zhǔn):GB/T2423.1.2、GB/T2423.2、GB10592、GJB150.3、GJB150.4
艾思荔儀器主營(yíng):紫外光加速老化試驗(yàn)機(jī);UV紫外光加速老化試驗(yàn)機(jī);高低溫交變濕熱試驗(yàn)箱;小型高低溫濕熱試驗(yàn)箱;高低溫交變濕熱試驗(yàn)箱;高低溫試驗(yàn)箱;高溫試驗(yàn)箱;高溫試驗(yàn)箱;高低溫沖擊試驗(yàn)箱;TS系列高低溫沖擊試驗(yàn)箱;環(huán)境應(yīng)力篩選試驗(yàn)箱;快速溫度變化試驗(yàn)箱;步入式環(huán)境試驗(yàn)室;步入式恒溫恒濕試驗(yàn)室;預(yù)燒室;預(yù)燒室/燒機(jī)房/老化房;太陽能模組可靠度試驗(yàn)設(shè)備;熱循環(huán)濕氣凍結(jié)濕熱試驗(yàn)箱;太陽能紫外線老化試驗(yàn)機(jī)等。
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